NIST SRM 610 是美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）研發(fā)的玻璃基質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)（SRM），核心用途為玻璃中痕量元素分析的方法開發(fā)、儀器校準(zhǔn)與結(jié)果驗證。該SRM610 玻璃基質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)品以晶圓形式供應(yīng)，每個單元含 4 片 3mm 厚晶片，橫截面呈橢圓或圓形，標(biāo)稱直徑 12-14mm，屬于非危險品范疇。

SRM610 玻璃基質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)品其基質(zhì)采用典型鈉鈣硅玻璃配方，標(biāo)稱成分為：72% SiO?（二氧化硅）、14% Na?O（氧化鈉）、12% CaO（氧化鈣）及 2% Al?O?（氧化鋁），在此基礎(chǔ)上添加 61 種微量元素，標(biāo)稱質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍為 100-500 mg/kg。常見目標(biāo)元素包括 Sb、As、Ba、Cd、Cr、Fe、Pb、Mn、Ni、Rb、Se、Ag、Sr、Th、U 等關(guān)鍵痕量元素。

制備工藝與均勻性特征

制備流程：SRM610 玻璃基質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)品采用 “棒狀熔融 - 切片成型" 工藝，先將基質(zhì)原料與微量元素前驅(qū)體混合熔融制成玻璃棒，再切割為標(biāo)準(zhǔn)晶片，全程嚴(yán)格控制熔融溫度與攪拌速率以保障元素分布均勻性。

均勻性驗證：

宏觀尺度：離子探針對 1mm 范圍內(nèi)的逐點分析顯示，單一片段內(nèi)元素分布變異系數(shù)≤0.2%，實驗室間比對偏差＜1%。

微區(qū)尺度：LA-MC-ICP-MS 對 1.5mm 晶片的 75-133 點 traverse 分析證實，在 10μm-1cm 尺度下無顯著異質(zhì)性（F 元素除外），Pb 同位素組成呈單正態(tài)分布。

使用特性：全晶片分析相對測量可重復(fù)性≤2%，但晶片內(nèi)部存在微觀空間異質(zhì)性，可能影響微分析技術(shù)精度。

使用與儲存規(guī)范

樣品處理：

表面清潔：乙醇擦拭后，用 1:10 稀硝酸溫和清洗（禁止蝕刻）；

污染控制：銅結(jié)合劑砂輪切割后需酸洗去除銅污染；

取樣要求：最小樣品量≥250mg 以保證與認(rèn)證值的關(guān)聯(lián)性。

儲存條件：SRM610 玻璃基質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)品需置于原始容器中，存放于陰涼干燥環(huán)境，避免物理損傷或化學(xué)污染。

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