SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標準品(NIST)  旨在與基于化學過程和儀器技術的元素分析測試方法一起使用。 SRM 1155a 的一個單元是一個直徑 3.2 厘米、厚 1.9 厘米的實心圓盤。

認證的質量分數(shù)值：

認證的質量分數(shù)值在表 1 [1] 中提供。賦值類別基于 NIST 用于化學參考物質 [2] 認證的術語和模式的定義。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏見來源已被調查或考慮。認證值是根據(jù) NIST 和合作實驗室進行的分析結果對真實值的當前最佳估計。

參考質量分數(shù)值：

參考質量分數(shù)值在表 2 中提供。參考值是未經(jīng)認證的值，是當前對真實值的最佳估計；但是，這些值不符合 NIST 的認證標準 [2]，并且提供了相關的不確定性，這些不確定性可能僅反映測量精度，不包括所有不確定性來源，或者可能反映多種分析方法之間缺乏足夠的一致性。

信息質量分數(shù)值：

表 3 中提供了信息質量分數(shù)值。信息值被認為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與值相關的不確定性 [2] .信息值不能用于建立計量可追溯性。

認證到期：

SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標準品(NIST)   的認證在規(guī)定的測量不確定度范圍內無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM（參見“使用說明"）。因此，不需要定期重新校準或重新認證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認證無效。

SRM 認證的維護：

NIST 將在其認證期間監(jiān)控此 SRM。如果發(fā)生影響認證的實質性技術變化，NIST 將通知購買者。注冊（見附件或在線注冊）將有助于通知。

使用說明

測試面是沒有標有SRM編號和菱形標志的那一面。該裝置的整個厚度都經(jīng)過認證。每個封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測試表面來準備的。用戶必須為每種分析技術確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染磁盤表面。材料應存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。

均勻性測試的結果表明，在對這種材料進行取樣時應小心。對于需要材料碎裂的測試方法，建議的最小樣品量為 200 毫克。對于直接測量磁盤表面的測試方法，建議仔細選擇測量區(qū)域。火花源和輝光放電測量應在表面的四個或更多不同位置進行； X 射線熒光法應觀察 SRM 單位至少四分之一的表面積。該材料不適合用于小面積的直接測量方法，例如微 X 射線熒光和激光燒蝕技術。